GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理

本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式，以及评估一般退化机理的试验方法。
通常本文件与IEC 62435-1一起使用，用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。
特定类型电子元器件的退化机理在IEC 62435-5～IEC 62435-9中加以规定。