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GB/T 42838-2023 正式版 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 259 GB∕T 42838-2023 正式版 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 ...

GB/T 42839-2023 正式版 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 335 GB∕T 42839-2023 正式版 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器 ...

GB/T 42848-2023 正式版 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 259 GB∕T 42848-2023 正式版 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 ...

GB/T 42884-2023 正式版 信息安全技术 移动互联网应用程序(App)生命周期安全管理指南

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 426 GB∕T 42884-2023 正式版 信息安全技术 移动互联网应用程序(App)生命周期安全管理指南 ...

GB/T 42888-2023 正式版 信息安全技术 机器学习算法安全评估规范

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 355 GB∕T 42888-2023 正式版 信息安全技术 机器学习算法安全评估规范 ...

GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 224 GB∕T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 ...

GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM)

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 209 GB∕T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM) ...

GB/T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 268 GB∕T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的) ...

GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 312 GB∕T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的) ...

GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存

更新日期: 2023-10-29   标准语言: 中文版   浏览次数: 228 GB∕T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存 ...
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