SN/T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分：电感耦合等离子体质谱筛选法
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- 更新时间：2019-03-15
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资料介绍
本部分规定了电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS)测定电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限（以锡计）为0.5mg/kg。
本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限（以锡计）为0.5mg/kg。