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JIS R 1693-3-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第3部分:直接加热法测定热半球总发射率

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  • 标准类型:JIS标准
  • 标准语言:日文版
  • 文件类型:PDF版
  • 更新时间:2020-11-04
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资料介绍

JIS R1693-3-2012 精细陶瓷和陶瓷基复合材料的发射率的测量方法--第3部分:直接加热法测定热半球总发射率
 Measurement method for emissivity of fine ceramics and ceramic matrix composites --
 Part 3: Hemispherical total emissivity by direct heating calorimetry 

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