GB∕T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
- 文件大小：6.65 MB
- 标准类型：检验检测
- 标准语言：中文版
- 文件类型：PDF文档
- 更新时间：2022-04-27
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资料介绍
本文件规定了采用电子背散射衍射（electron backscatter diffraction，EBSD）法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。
本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。
本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体，奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。
注： 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。
标准号：GB/T 41076-2021
标准名称：微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
英文名称：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Quantitative determination of austenite in steel
引用标准：GB/T 13298 GB/T 19501 GB/T 23414 GB/T 30067 GB/T 30703 GB/T 34172 GB/T 38532 YB/T 4377
起草人：孟杨、鞠新华、崔桂彬、杨小鹏、李继康、张玉成、陈鹰、尹立新、任群、严春莲、其其格、贾惠平
起草单位：首钢集团有限公司、牛津仪器科技(上海)有限公司、钢铁研究总院
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。
本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体，奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。
注： 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。
标准号：GB/T 41076-2021
标准名称：微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
英文名称：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Quantitative determination of austenite in steel
引用标准：GB/T 13298 GB/T 19501 GB/T 23414 GB/T 30067 GB/T 30703 GB/T 34172 GB/T 38532 YB/T 4377
起草人：孟杨、鞠新华、崔桂彬、杨小鹏、李继康、张玉成、陈鹰、尹立新、任群、严春莲、其其格、贾惠平
起草单位：首钢集团有限公司、牛津仪器科技(上海)有限公司、钢铁研究总院
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)