DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法
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- 标准类型：综合地方标准
- 标准语言：中文版
- 文件类型：PDF文档
- 更新时间：2023-06-09
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资料介绍
本文件规定了基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选的筛选原理、筛选条件、筛选系统构成和要求、筛选方法和判据。
本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选，GaN HEMT射频功率模块可参照使用。
本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选，GaN HEMT射频功率模块可参照使用。