SJ∕T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
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- 标准类型：电子信息
- 标准语言：中文版
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- 更新时间：2022-01-05
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资料介绍
SJ∕T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。
本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。