SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
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- 标准类型:电子信息
- 标准语言:中文版
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- 更新时间:2023-10-25
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资料介绍
本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备(以下简称“分立器件测试设备”)的术语和定义、技术要求、测量方法。
本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01 V~~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A,脉冲陶泊输出和脉冲电流刺童围不超过10A~1200A的分立器件测试设备。
本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01 V~~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A,脉冲陶泊输出和脉冲电流刺童围不超过10A~1200A的分立器件测试设备。
